JTAG Граничное тестирование
Опубликовано 23.10.2010
Ведущий Антон Панкратов
С развитием электронной промышленности и объемов производства задача тестирования электронных изделий все больше усложняется. Привычное функциональное тестирование становится все менее информативным из-за возрастающей сложности печатных узлов. Мировые производители электроники уже много лет используют стратегию структурного тестирования ...
Группы, упомянутые в ролике