Система сбора и регистрации данных Tektronix / Keithley DAQ6510

Система DAQ6510, демонстрирующая новый уровень простоты эксплуатации, имеет сенсорный интерфейс пользователя, обеспечивающий более быструю настройку измерений, мониторинг состояния тестирования в режиме реального времени и подробный анализ данных на экране прибора.

Сокращение продолжительности настройки, процедуры тестирования и анализа

• Настройка: настройка многоканального сканирования и широкого спектра функций измерения осуществляется при помощи одного меню конфигурации измерений и сканирования.
• Запуск и мониторинг: отображение процесса сканирования во время тестирования для немедленного обнаружения результатов измерений, выходящих за пределы заданных диапазонов и превышающих пороговые значения.
• Анализ: отображение и анализ результатов при помощи графиков и статистики. Функция масштабирования на сенсорном экране позволяет более подробно изучить полученные результаты. Используя курсоры, можно рассчитать статистические значения для сегментов данных.
• Быстрая автоматизация обработки данных на ПК при помощи приложения для сбора данных KickStart

Более широкий спектр измерений

• Напряжение: от 100 нВ до 1000 В с базовой точностью 0.0025% для постоянного напряжения
• Ток: от 10 пА до 3 А
• Сопротивление: от 1 мкОм до 120 МОм
• Ёмкость: от 0.1 пФ до 100 мкФ
• Температуру можно измерять в диапазоне от -200 до +1820°C при помощи термопар, термометров сопротивления и термисторов
• 1 Мвыб/с, 16-битный АЦП и возможность сохранять до 7 млн показаний
• Для систем тестирования предлагаются дополнительные опции, реализованные в виде 12 подключаемых модулей и увеличивающие число каналов до 80

Сокращение сроков тестирования

• Длительность сигналов для измерений не короче, чем 0.0005 периода сигнала сети питания или 8.3 мкс (10 мкс) для сети с частотой 60 Гц (50 Гц).
• Скорость сканирования при помощи твердотельного подключаемого модуля мультиплексора составляет до 800 каналов в секунду.
• Прибор может сканировать до 80 каналов с 2-полюсной коммутацией, обеспечивая тестирование статистически значимого количества тестируемых устройств за один цикл.